CMOS集成电路闩锁效应
【作 者】温德通编著
【丛书名】IC工程师精英课堂
【形态项】 230
【出版项】 北京：机械工业出版社 , 2020.03
【ISBN号】978-7-111-64587-0
【中图法分类号】TN432.02
【原书定价】99.00
【主题词】CMOS电路-静电防护-电路设计
【参考文献格式】 温德通编著. CMOS集成电路闩锁效应. 北京：机械工业出版社, 2020.03.
内容提要:
本书通过具体案例和大量彩色图片，对CMOS集成电路设计与制造中存在的闩锁效应（Latch-up）问题进行了详细介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效应的基础上，先后对闩锁效应的原理、触发方式、测试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了详细讲解，随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用，为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效应测试和改善方法。
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